Haeun Roh
SEMICONDUCTOR YIELD / PROCESS DATA ANALYST
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Feature Importance Top 5 차트

반도체 Process 데이터 분석을 통한 수율 개선 프로젝트 (SECOM)

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Random Forest vs XGBoost Confusion Matrix 비교

LLM 기반 반도체 Process 데이터 분석 및 수율 예측 자동화 시스템 개발

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클래스별 웨이퍼 맵 샘플

웨이퍼 결함 패턴 분류 및 PHI 기반 설비 점검 우선순위 도출 시스템

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졸업포스터 결과 섹션 — 모델별 R² 비교

Virtual Metrology for Oxide Etch Rate Prediction

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이슬점 예측 계산기 UI

이슬점 예측 시뮬레이션

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RAG 챗봇 질의응답 예시 (CPO 관련 질문)

My Knowledge Chatbot 만들기

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EIS 및 Na+ transference number 결과

iCVD 기반 박막 Deposition Process 제어를 통한 분리막 표면 개질 및 파라미터 최적화 URP

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PEG(폴리에틸렌글리콜) 반복 단위 구조식

Stealth Nanocarriers in Cancer Therapy: PEGylation and Its Evolution

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수율 엔지니어의 하루 — 웨이퍼맵 패턴 분석 업무 화면

<수율 엔지니어의 하루> 게임 개발 (A Day in the Life of a Yield Engineer)

웨이퍼맵 패턴 분석 업무 화면

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새 프로젝트가 계속 추가될 자리입니다

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